“iPhone”nun daha bir zəif nöqtəsi üzə çıxdı

“Apple” şirkətinin ilk qatlanan telefonu “iPhone Duo” dayanıqlılıq testində problemlərlə üzləşib. Test zamanı cihazın menteşəsinə qum və toz dolduqda tam bağlanmadığı, güc tətbiq edildikdə isə daxili ekranının zədələndiyi aşkarlanıb.
“Bakupost” xəbər verir ki, “JerryRigEverything” kanalının keçirdiyi sınaq zamanı telefon qum, torpaq və kirə məruz qoyulub.Nəticədə menteşə mexanizminə daxil olan çirklərin cihazın bağlanmasına mane olduğu müəyyən edilib.
Telefon əks istiqamətdə əyildikdə tam qırılmasa da, daxili ekranında qalıcı zədələr yaranıb.
Vüsalə Hüseynova,BakuPost